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分析检测仪器
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【设备更新】分析仪器解决方案
材料成分分析
材料表面分析
材料性能监测
材料试验机
电子天平系列
材料结构解析
ICPMS-2050系列 电感耦合等离子体质谱仪
材料中痕量/超痕量多元素含量同时测定 与LC联用测定溶液中元素形态/价态
ICPE-9820 电感耦合等离子体发射光谱仪
材料中微量/痕量多元素含量同时测定
AIRsight 红外拉曼显微镜
材料样品微量、微区红外光谱显微分析 材料样品微量、微区拉曼光谱显微分析 化合物定性、半定量分析
EDX-7200/8100 能量色散型Ⅹ射线荧光光谱仪
固体、粉末、液体等材料中元素含量快速分析
AA-7000 原子吸收分光光度计
材料中微量/痕量元素含量测定
MALDI-8030双极性 台式线性MALDI-TOF质谱仪
材料有机成分分析
PDA-8000 光电直读光谱仪
金属材料化学主成分的快速分析
EPMA-1720HT/8050G 电子探针显微分析仪
微区成分分析 微区形貌观察
PY-GCMS 热裂解-气相色谱质谱联用系统
材料裂解,裂解产物分析
i-Series GPC系统
高分子材料分子量测定
SPM-9700HT原子力 显微镜/扫描探针显微镜
高分辨率观察材料表面三维形貌 材料局部物理特性测量
SPM-8100FM高分辨 原子力显微镜/扫描探针显微镜
大气/溶液环境下分析薄膜、结晶、半导体、有机材料等材料,获得高分辨率表面观察图像 在固液界面进行水化、溶剂化的观察
SPM-Nanoa 原子力显微镜/扫描探针显微镜
高速、高自动化、高分辨率 材料样品的三维形貌观测 材料局部物理特性测量
AXIS SUPRA+ X射线光电子能谱仪
固体材料表面的元素(3Li~92U)成分分析 定量解析各种元素所处的化学状态 材料制备、使用和失效过程元素化学态 变化
EPMA-1720HT 电子探针显微分析仪
固体材料微观形貌观察
EPMA-8050G 电子探针显微分析仪
DSC-60A Plus 差示扫描量热仪
材料玻璃化转变温度、冷结晶、相转变熔融、结晶、稳定性、固化/交联、氧化诱导期等进行测量
IRXross 傅立叶变换红外光谱仪
材料组成化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息进行表征
RF-6000 荧光分光光度计
材料激发光谱、发射光谱、荧光强度、量子产率等测量
IRXross+AIMsight 红外显微系统
材料样品微量、微区红外光谱显微分析
SolidSpec-3700i 紫外-可见-近红外分光光度计
深紫外-紫外-可见-近红外范围内测定材料的光学性能,包括透过率、反射率、漫反射等
EZ-Test 系列 单立柱电子式万能材料试验机
材料或工件的力学性能测量
AGX-V2 系列 电子式万能材料试验机
USF-2000A 超声波疲劳试验机
材料或工件的疲劳耐久性能测量 金属和其他材料的负载容量信息以及确定度 可测量109-1010次疲劳强度并获取数据
SEM-SERVO 带扫描电镜的疲劳试验机
应用于科研领域—AU系列
准确称量
inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus 微焦点X射线CT系统
复合材料、大型铝合金压铸件等透视成像