Xslicer SMX-6010 - 特点
Microfocus X-Ray Inspection System
高清宽动态花围图像
搭载300万像素平板检出
采用300万像素平板检出器（是老机型的2.3倍），细微的内部结构与缺陷一览无遗。
130万像素平板的X射线透视图像
（本公司老机型）
300万像素平板的X射线透视图像
HDR新功能
搭载本公司独创的HDR处理功能。
相比老机型，可获得大动态范围X射线透视图像。
穿透性好的部分与差的部分可同时观察，能有效缩短检查时间。
HDR处理应用示例（左：无HDR处理、右：有HDR处理）
简单快捷的操作性
3步拍摄
X射线透视拍摄仅需3步即可完成。
大型显示器与简便的无按键布局，实现良好的可见性与直观的操作。
新手也可轻松进行X射线透视检查。
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STEP 1 点击更换样品按键。
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STEP 2 关闭正面门扉，点击开始按键。
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STEP 3 点击外观图像，粗略定位。 |
透视・CT自由切换
通过菜单选项即可从透视拍摄切换至CT拍摄。
本装置为倾斜CT仪器。让平板检出器倾斜并旋转360°拍摄X射线透视图像，重建断面图像。无需安装其他单元即可完成。
CT拍摄的条件设置十分简单，只需选择拍摄模式、拍摄角度、拍摄视野即可。
特点：透视拍摄中可随时对观察点进行拍摄和观察。
快速扫描・快速重建
CT软件“Xslicer”实现了传统CT拍摄开始前必不可少的较准作业全自动化及快速扫描。从CT拍摄开始到断面图像
显示，最快2分钟内完成。
CT拍摄范围大
在350mm×350mm范围内，无论哪个部位均可进行CT拍摄。本机仅需点击拍摄部位，即可确定拍摄位置，无需像传统的倾斜CT那样需要以旋转台为中心移动样品。
简单的追踪点设定
设定好追踪点后，无论是倾斜还是旋转，完全掌控观察点位置，不会偏离画面中心。
只需让检出器倾斜，双击观察位置，即可设定追踪点。
丰富的辅助检查功能
教学功能
可按照登录的教学程序，记录任意的多个观察位置，按照编程顺序进行透视拍摄和CT拍摄，并可对每个观察位置进行“OK”、“NG”、“保留”判定，并保存结果。
步进功能
步进功能通过指定开始位置、移动量、移动次数进行编程，运行时，按照设定从开始位置连续移动并进行观察。
可对按一定间隔排列的样品进行连续透视或CT拍摄。
全景拍摄功能
只需在外观图像上指定拍摄范围，即可获得大范围X射线透视图像。改良图像拼接后，画面清晰流畅，可获得最高3200万像素的透视图像。
自动调整画质功能（AW功能・重点观察范围功能）
自动优化对比度设定，使在透视图像内指定的位置更易于辨识。通常，这种优化功能会使重点观察范围外的部分难以辨识，但通过采用独创的图像处理算法，重点观察范围外的部分会自动调整得更易于辨识。
提高作业效率的丰富的辅助功能
BGA检测
可检测BGA(球珊阵列）的凹凸径与孔隙比。
采用独创的图像处理算法，无需进行复杂的参数设定。※
保存多个设定，调出各检查对象的对象设定，也可进行检测。
※也有的样品需要手动调整。
面积比率检测
检测键合与焊锡膏的润湿性等的面积比率。
独特的算法处理不需要繁琐的参数设定。
还可保存多种设定，根据检查对象调出相应设定即可作业。
在面积比率测量中可做合格判断。
※根据样品特点也可能进行手动设定。
※也有需要手动调整的情况。
※检测范围（RoF）可手动设定。
金线曲率检测
通过设定金线两端和最大曲点可以测量邦定线的曲率。
还可对金线曲率合格与否进行判断。
尺寸测量
可以进行2点间距离或者3点测量。
本设备的校准数据与放大倍数联动，可高效地进行尺寸测量。
