SPM-9700HT - 特点
Scanning Probe Microscope
HT扫描器-高速反馈,高速扫描
缩短观察时间 高通量扫描
通过新开发的可快速响应的HT扫描器以及软件与控制系统设计的优化,成功实现以传统设备5倍以上的速度(与本公司相比)获取图像数据。

扫描器可简单更换,因而可使用传统扫描器。另外,可通过在原SPM-9700上追加HT扫描器,实现设备的高效率分析。
分析案例
• 金属蒸镀膜的表面粗糙度分析
以1Hz和5Hz的扫描速度对金属蒸镀膜的表面形貌进行观察。画质及表面粗糙度的分析结果相同。

• 光栅沟槽形状检测
以1Hz和5Hz的扫描速度对光栅的表面形貌进行观察。经过断面形状分析,沟槽形状检测结果均相同。

探针专家-便捷操作,轻松换探针
探针安装夹具——“探针专家”(选配)
可轻松地准确安装探针。
安装顺序:
① 将探针架安装在探针安装夹具上。
② 将探针置于滑动台上。
③ 将探针插入探针架并固定,保持探针能够滑动。

头部滑动机构-高稳定性&高速分析处理
鼠标操作即可实现丰富的3D图像显示
SPM-9700HT仅用鼠标即可实现旋转、放大缩小、Z轴倍率的自由变化,调节图像角度和倍率。更有将高度信息和其他物理信息重合显示的质感功能和3D断面形状分析功能,由此实现高度分析,提高图像确认的效率。

放大缩小
旋转
Z轴倍率变化
质感功能
能够将高度信息和其它的物理性信息重合显示。两者关系也可明确显示。

3D断面形状分析
能够在3D显示时进行断面形状分析。质感功能显示物理性信息时,也可在同一位置分别显示各种各样的断面形状,并进行分析。
从观察到分析实现无拘无束的可操作性
满足所有要求的功能和扩展性
丰富的设定模式,不仅可以显示样品形状,更可获得反应电流、电位、硬度和粘弹性等样品表面物理信息的图像。
接触模式AFM

悬臂和样品始终保持接触,控制悬臂与样品之间的相互作用保持一定状态下,扫描样品表面的模式。这是典型的AFM模式,可以得到目前更高分辨率图像。
云母的原子图像(使用充气平台)
动态模式AFM

悬臂在谐振频率附近震动。在悬臂震动的状态下悬臂接近样品时振幅会发生变化。利用这种现象,在保持振幅不变的状态下进行扫描,获得样品高度方向的变化数据。
蓝宝石的原子台阶
质粒DNA
相位模式

在动态模式扫描中,由于样品表面性质的差异会导致悬臂相位的延迟,据此可以图像化显示被测样品表面的物理性质差异。
高分子片晶 表面形貌像
相位像
水平力(LFM)

垂直于悬臂的长度方向的扫描,通过检测悬臂的弯曲量变化,可以检测样品表面受到的水平力(也叫摩擦力)的大小。
白金层 表面形状
LFM像
力调制模式

悬臂和样品的接触扫描过程中,悬臂周期性的压入样品,将产生的响应分离成振幅和相位后进行图像化,这样可以测量样品表面的不同物理性质并能进行图像化显示。
聚丙烯膜 表面形状像
振幅像
力曲线模式

扫描中,悬臂和样品的距离在不断变化,可以用曲线表示悬臂的作用力变化


电流模式

接触模式扫描中,在悬臂和样品间加上一个偏压,就可以测量悬臂和样品间流过的电流。
碳电阻 表面形貌像
电流像
表面电势模式(KFM)

在导电悬臂和样品之间加上交流电压,可以检测出悬臂-样品表面间相互作用的电场力和样品表面的电势分布情况。
分散剤 表面形状像
電位像
磁力模式(MFM)

将磁化的悬臂离开样品表面扫描,检测出漏磁场与磁力,将样品的磁性化信息图像化。
软盘 表面形貌像
MFM像
矢量扫描

可以对样品的扫描方式、探针与样品间力、加载电压等参数进行编程,并按设定要求进行观察。
硅基板上的金镀气层 表面形貌像
KFM像
溶液中观察(培养皿型溶液池)

样品固定在培养皿的底部,探针在溶液中进行扫描,实现AFM在溶液环境下的观察。

亲水性高分子 大气中
溶液中
电化学反应观察 (电化学反应溶液池)

在电解溶液中通过电化学反应,使用AFM观察样品表面的变化。采用标准3电极(作用电极、对极、参照电极)。

铜板 表面形状像
cyclic voltammetric 3次反复
粒度分析软件(选配)
颗粒分析软件是在SPM-9700HT的图像数据中选取颗粒,针对每个颗粒计算其特征量,同时进行分析、显示以及统计时使用的软件。能够对以下丰富的特征量和计算出的各特征量的统计数据进行一览显示,可更换数据前后顺序并可以图形显示。
| 特征量 | 统计量 | |
|---|---|---|
|
|
|
分析例

薄膜(□5μm)

大肠杆菌(□30μm)


选出颗粒·分类结果


选出颗粒·标记结果


平均半径的柱状图表示


绝对最大直径和针状程度相关的表示图


















