EDX-7200 - 特点

Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

追求高速・高灵敏度・高精度的机型

高速 — 计数量高达到30倍 —

搭载高速电路,计数量高达以往型号(EDX-720)的30倍。通过改良算法和升级基本性能,缩短了测定时间, 进一步提高了操作便捷性。

铜合金中的铅(Pb)的谱图比较

铜合金中的铬(Cr)的谱图比较

实际样品的比较

分别用以往型号(EDX-720)和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅(Pb)进行分析,比较其重现性。

测定时间与标准偏差(定量值的偏差)的关系

满足目标分析精度所需的测定时间

X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度(重现性)。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号(EDX-720)相比,能够在更短的时间内达到目标分 析精度。

高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —

提高了金属分析中微量元素的检测下限。

金属中的铅的检测下限基准(300秒)

※ 检测下限值仅为示例,并非保证值。

高分辨率


能量分辨率的比较(样品:PPS树脂)
 

与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号(EDX-720)相比, 能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减少,分析结果更加可靠。

无需液氮

SDD检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业,还可以降低运行成本。

检测元素范围

 

・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时,推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。
・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。
・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时,由于薄膜吸收的原因,难以达到上述检测下限基准。

卓越的通用性

从微小样品到大型样品,从粉末样品到液体样品,灵活应对各类样品。
可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台(选购件)。

4种准直器以及样品观察装置

左:1mmΦコリメータ選択時/右:5mmΦコリメータ選択時 微量用試料容器使用

ø1、3、5、10mm 四级自动切换
根据样品尺寸的不同,照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø1mm,少量样品时采用ø3mm和 ø5mm,可以根据样品的形状选择适合的照射直径。


标配样品观察装置
通过样品观察装置,可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。

 

自动切换5种一次滤光片

使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线,从而提升检测灵敏度,尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种(含OPEN共6种)一次滤光片,可以实 现软件操控自动切换。

 
 

准直器和一次滤光片自由组合

准直器和一次滤光片独立驱动,可自由组合,共6×4种=24种组合可选。 同时,所有组合均可对应FP法进行定量分析。

 
 
 

真空检测单元(选购件)

由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收,所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。

真空雰囲気を100とした場合のヘリウム置換と大気雰囲気の相対感度

真空环境为100时,氦气置换和大气环境下的相对灵敏度

真空雰囲気と大気雰囲気のプロファイル比較 (試料:ソーダ石灰ガラス)

真空环境和大气环境的分析结果比较
(样品:钠钙玻璃)


氦气置换检测单元(选购件)

对于无法在真空环境下进行分析的样品(如液体、会产生气体等),可以通过氦气置换实现轻元素分析。
升级了岛津特有的氦气置换系统(日本专利:「特许」No.5962855),且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。

氦气置换和大气环境下的谱图比较(EDX-7200/油中硫) 
 
 
 
 
 

12位样品转台(选购件)

配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空·氦气 环境下可实现高通量,从而显著提高检测效率。

丰富的分析功能

校准曲线法

検量線法

校准曲线法是指通过对标准样品的测定,依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线,是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线,从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。

 
 
 

FP法

根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品,FP法是有效的定量 分析方法。

配置自动设定平衡功能
样品主要成分为C,H,O等时,FP法需要进行平衡(残 余成分)设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时, 软件将自动进行。
 

 

背景FP法

バックグラウンドFP法(特許取得済)

背景FP法指在仅计算X射线荧光(净峰)强度的传统FP法基 础上,增加计算散射X射线(背景)强度的方法。(日本 专利:「特许」No.5975181)
在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。

 
 
 

薄膜FP法

标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。

 
 
 

匹配功能

匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较,按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。
谱库分为含量数据和强度数据两类,用户均可登录。 同时,含量数据更可手动直接录入。

マッチング機能
匹配结果

具有设计感的外观

460mm宽的紧凑机身,配置大型样品室

460mm宽的紧凑机身,与以往型号(EDX-720)相比,宽度减少了20%。
虽然机身紧凑,但却拥有可放置300(W)×275(D)×约100(H)mm样品(相当于A4大小)的大型样品室。

設計されたデザイン

視認性の高いLED表示灯

识别度高的LED显示灯

产生X射线时,分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。

“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi

PCEDX Navi

为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室,深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面,无论是初学者还是专家,都可以体验到便捷的操作环境。

简洁的界面
在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

在测定界面上可以直接切换准直器
可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。

自动保存样品图像
测定开始时自动读取样品图像,与数据文件夹关联保存。

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