SPM-Nanoa

扫描探针显微镜/原子力显微镜

 
 
 
 

自动观察
自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理

使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟*

*自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。

 
传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作。 
 
 
 

 
 

性能优异
从光学显微镜到SPM/AFM,各模式下均可清晰地捕捉图像

利用光学显微镜搜索目标区域,利用SPM可以方便地进行高分辨率观察。利用与表面形状图像相同的视场可以获得其他物理特性信息。

样品:硅基底上的二氧化硅图案 

 
 
 

丰富多样的扫描模式

从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析,支持广泛的扫描模式。这意味着可以兼顾高分辨率与物性测试。 

形貌 接触模式、动态模式
机械性能 相位模式、侧向力模式、力调制模式、Nano 3D Mapping Fast *
电磁学 电流模式* 、磁力模式* 、表面电势模式* 、压电力模式* 、STM *
纳米加工 矢量扫描模式*
环境支持 液体环境*
*为选配部件 
 
 
 

搜寻目标区域更容易

利用清晰地光学显微镜图像,可以轻松找到目标区域,不用担心振动的影响。

SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。

 

样品视野

 

使用集成光学显微镜,样品表面的3um间隔图案清晰可见。

 
 

高分辨观察表面物性

极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异,都可以获得高分辨率的观测图像。

用表面电势模式观察云母基底上的金纳米颗粒

 
该图显示了0.2um范围内的表面电势(右)和形貌图像(左)
 
 

8K成像助力大范围高分辨扫描

可支持8K(81929192)扫描点阵,大范围区域的小细节也纤毫毕现。

观察金属蒸镀膜

 
 
 
 

省时高效

支持功能功能模式高速观察

通过高速观察和物性高速成谱功能,显著减少了观测时间。

探针更换工具和样品更换机构有效缩短了扫描准备时间。

三个独特设计极大缩短了观测时间。 
 
 
 
 
 
 

高通量观测
高速物性成谱

采用了可实现高速响应的HT扫描器并优化了控制算法,从而大幅缩短了观察和物性成像的数据获取时间

 
 *观测时间受参数设定影响    
 
 
 
 

简便顺滑地样品更换
高速物性成谱

一键式操作实现自动开启、关闭平台,放置和取出样品。
由于固定了激光的照射位置,所以在样品更换后可立即进行观察。

 

 
 

探针更换简单且可靠     Cantilever Master(选购)

仅需将探针放置在指定的位置,并使其沿着导轨滑动即可安装,即使操作人员不习惯使用镊子,也能够简单准确地进行操作。

 

沪公网安备 31010402008269 号
Top of This Page