X射线衍射仪

X射线衍射分析方法可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精细测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等;X射线衍射分析方法是材料微观结构表征更常规和更有效的方法之一

沪公网安备 31010402008269 号
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