利用专用滤光片提高灵敏度／还可以进行高灵敏度的无卤素分析

标准配备了5种滤光片，可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线，提高检测灵敏度。

本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种最合适的滤光片，进行高灵敏度测定。　
 
受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定
　微量成分：Cl（除去特征X射线）

利用滤光片提高检测灵敏度

微量成分：Pb（背景降低）

 
 

滤光片条件灵活，满足客户要求

如果您希望在短时间内对多个样品进行测定，推荐使用单个滤光片进行高速分析。
 

<由单个滤光片进行高速分析> 测定时间：100秒

如果您希望对微量元素进行高灵敏测定，可以选择各种专用滤光片进行高灵敏度分析。
与单个滤光片高速分析相比，灵敏度约提高2～3倍。

 

<由专用滤光片进行高灵敏度分析>
测定时间：300秒（100秒×3通道）