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首 页 > 产品及业务 > X射线/表面分析 > 产品类别 > X射线衍射仪
 X射线衍射仪 XRD系列
购买指南
产品信息

XRD title.jpg

易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪的新时代!

X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
XRD 1.jpg

MAXima_X XRD-7000

LabX XRD-6000


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垂直型测角仪
配备高精度垂直型测角仪,适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
  • XRD-6000具有本质安全结构。
  • 只有门连锁机构闭锁时,X射线管才能开启,具备高安全性。
  • 配备高速运转(1000°/min)及高精度角度重现性(±0.0001°)的垂直型测角仪,可进行各种样品的测定。
  • 驱动机构为独立2轴驱动,可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独立驱动,特别对薄膜测定行之有效。
  • 备有丰富的附件(软件/硬件)来满足多种需要。
    对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订
    X射线衍射仪XRD-6000 环境测定包
    适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。

 

MAXima_X XRD-7000


XRD 3.jpg

高精度样品水平型测角仪S
配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的,可以选择适合分析大型样品的L型(最大350mmφ样品)和通用的S型。
  • XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪,能够测定超大型样品。
  • 不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
  • 利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。
  •   XRD 4.jpg

      使用XRD-7000进行的刹车盘应力成图分析实例

    • 采用强大的多毛细管平行光束系统,可对应凹凸不同的样品的分析,扩大应用范围。
         使用多毛细管平行光束系统的测定实例
           (药品/食品/生体篇)
           (机械部件篇)

    • ※如有外观及规格的变动,恕不另行通知。 

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