探知未来
扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。

样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异，分析时间也大幅度缩短。	可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单，更可进行3D断面形状分析。
按照操作指南指导操作顺序，使用导航功能直接锁定观察位置，实现了SPM的快速简便的观察	具备丰富的测定模式和优异的扩展性，可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。
控制气氛扫描探针显微镜 WET-SPM 可以控制样品和周边环境，在可控气氛下进行样品处理，并直接进行SPM观察。 选配系统具有温度湿度控制单元、样品加热冷却单元、样品加热单元、吹起单元。	粒度分析软件 从图像数据中选取复数颗粒，对每一颗粒进行特征量的计算，并进行分析、显示，以及及进行统计处理。
超微小硬度计复合型SPM系统SPM+TriboScope（TriboScope为美国Hysitron公司产品） 可以进行极薄膜的硬度试验和压痕试验。  微小部热分析试验仪器复合型SPM系统 SPM+nano-TA2（nano-TA2为Anasys Instruments公司产品）可以进行样品表面的三维形貌观察和点的热分析。

观察模式	标准	接触模式 动态模式 相位模式 水平力模式（LFM） 力调制模式 矢量扫描模式
	选购件	磁力（MFM）模式） 电流模式 表面电位（KFM）模式
分辨率	XY	0.2 nm
	Z	0.01 nm
AFM头部	位移监测系统	光源/光杠杆/检测器
	光源	激光二极管（On/Off均可） 更换样品无需调整光路
	检测器	光敏二极管
扫描器	驱动元件	管状压电元件
	最大扫描范围 （X*Y*Z）	30μm×30μm×5μm　（标准） 125μm×125μm×7μm　（选购） 55μm×55μm×13μm　（选购） 2.5μm×2.5μm×0.3μm　（选购）
样品台	最大样品形状	φ24mm×8mm
	样品装载方式	头部滑动机构 悬臂安装状态下可直接装载样品
	样品固定方式	磁性固定
Z轴驱动机构	驱近方式	全自动驱近
	最大可驱近范围	10mm
信号显示板	显示量	检测器的总入射光量（数字显示）
减震机构	减震台	SPM单元内置
光学显微镜观察	方式	分束器滑动机构
专用风挡	方式	无需或者使用气氛控制腔体
气氛控制	方式	无需改造SPM单元可直接导入气氛腔体